联系人: 陈明
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string(5470) "AFM主要技术指标:
1. 工作模式:
轻敲模式带有Q-control控制技术(AC mode); 接触模式(Contact mode);相位成像模式(Phase imaging); 横向力模式(Lateral force Microscopy LFM);磁场力显微镜(Magnetic Force Microscopy, MFM);压电力显微镜(Piezo Response Force Microscopy, PFM mode);矢量压电力显微镜(Vector PFM);极化反转谱PFM(Switching Spectroscopy PFM);静电力显微镜(Electric Force Microscopy, EFM) ;扫描开尔文显微镜(Kelvin probe force microscopy) ; 力曲线模式(Force curve);力阵列测量(Force Volume Measurement) ; 纳米刻蚀(Nanolithography);纳米操纵(Nanomanipulation);压电响应刻蚀(PFM litho);高次谐波成像模式(Dual AC Mode);双频共振追踪 (Dual frequency resonance tracking, DART);双频共振追踪压电力显微镜(DART-PFM); 智能编程模式
2. 扫描器:
★2.1.扫描器是X,Y,Z三轴分离的扫描器,X,Y,Z三个驱动轴各有一根压电陶瓷管驱动; X,Y方向的扫描范围≥120μm,Z方向≥15μm
2.2 扫描器闭环噪音:X,Y轴闭环噪音≤0.6nm(Adev,1Hz到1KHz带宽,Z轴闭环噪音≤0.25nm(Adev,1Hz到1KHz测试带宽).
2.3系统传感器噪音≤15pm(Adev,1Hz到1KHz带宽);
3. 全数字化控制器:
3.1 至少两个全数字双频锁相放大器,工作带宽5MHz。
3.2 一个输出频率在10MHz的双频率频率合成器. 频率范围从直流到最大 2MHz(2mHz步长)。
3.3 Cross Point信号交换芯片:一个16 × 16路数字化信号交换芯片。
4. 操作软件:
4.1 操作软件永久免费使用和升级。
4.2 操作软件源代码开放,用户可直接在系统操作软件上进行二次开发;AFM系统内部的信号图全部开放,支持用户对AFM中的任意信号进行调用。
5. ★高压压电力显微镜模块:该模块与AFM主机结合,能够直接输出高达220V的PFM测试电压,能够在高压模式下(±220V)实现DART-PFM模式和Switching spectroscopy测试。高压模块的测试电压能够通过AFM的操作软件直接进行直流或者交流调节;该模块须配有安全指示灯以及防触电装置确保操作者安全。
6. ★软件自动控制的外加磁场模块:该模块能够放置在原子显微镜的样品台上实现不同外加磁场强度下的AFM测试。通过AFM操作软件直接控制施加在样品上的磁场强度, 外加磁场范围:±8000oe,磁场分辨率10oe。该模块须利用稀土永磁体来施加外加磁场,并通过一体化的内置高斯计实时检测并自动反馈控制磁场强度。
7. 样品加热模块:该模块能够与原子力显微镜头部构成全密封的环境进行加热;腔内能够实现正压,温度控制范围:-20℃至300℃。温控精度<0.2℃。样品加热腔需留有气体通路以控制加热过程中的气氛环境;能够在加热时进行高压PFM测试。
7. 制冷/加热模块:该模块提供封闭式样品腔,能够在气体环境中实现-20℃至120℃的变温。温控精度0.1℃。该模块中已经包含制冷泵;
8. 电脑配置不低于以下要求:8G内存工作站主机;4核的Intel-i7处理器; 硬盘总容量4T; 2台24尺寸的显示器。
9. 导电AFM: 利用导电针尖实现导电AFM成像和I/V曲线测试。电流测试范围1pA至20nA。并能够在导电模式下实现Eclipse? mode(导电测试时,关闭探测激光,减少光激发效应)。并能够利用导电模块实现导电PFM(Swap)测试:单次扫描同时获得PFM信号与电流信号,能够在正常表征样品PFM畴结构信息的同时获得样品导电信息。
10. 样品台:最大可容纳样品直径不小70mm,最高可容纳样品厚度不低于10mm。
11. ★智能编程模式: 具有图标式编程代码,只需要拖动相应的图标即可实现智能编程模式。如自动实现不同外加磁场强度下的MFM成像。
12. 高性能防震平台:隔绝外部振动,保证系统正常工作。该附件保证仪器的正常工作。
13. 专用隔音罩:隔绝声音以及气流影响,保证实验精度。
上置式原子力显微镜+拉曼光谱联用部分技术指标:
1. 样品扫描范围:≥90μm×90μm×9μm (±10%)。最大样品直径:100mm,厚度:20mm,最大样品质量:100g。三维全量程闭环控制扫描器。
2. 配备可用于样品对准的彩色CCD和样品台,位置手动调节装置,手动可调节范围5×5mm,精度±5μm。
3. 力曲线模式,可以实现力谱,力曲线,杨氏模量等测试。
4. 开放式软件设置,除传统力曲线、I-V曲线外,可自定义生成任一信号相对于另一信号的曲线模式。
5. 顶部光学接入,顶部光路配置放大倍率100×,数值孔径0.7的物镜。
6. ★光路输入/输出系统,使激发光能精确引入并定位到样品指定区域,实现对样品激发。收集光通过光路输入/输出系统进入探测器。配有振镜,可实现激光扫描功能。
7. 具有适当的接口或安装连接设计,方便与外光路进行友好对接,将来可以与荧光和拉曼等光谱探测设备联用。
8. 可实现TERS功能,TERS测试金基地上氧化石墨烯-碳纳米管样品,分辨率≤20nm。
9. 可实现TERS热点3D扫描。
10. AFM-Raman联用的专用软件,可实现AFM与Raman间信息互通,实现AFM-Raman原位扫描成像。"
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string(610) "利用原子力显微镜及拉曼光谱仪联用系统可以提供丰富的信息:拉曼光谱的半高宽度可以精准反应出半导体、晶体材料、薄膜材料的结晶度、材料的缺陷以及掺杂等;谱线的位移能提供材料的微观应力,高压形变以及高温应变等;谱峰位置还可以显示出有机材料的官能团等化学结构。该套设备功能强大,可以在纳米量级实现材料微观结构的拉曼成像,既具备了常规原子力显微镜(AFM)的超精细物质形貌的微观检测,又同时提供了拉曼散射所特有的物质形态信息"
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电 话: 13583131393
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