1. STEM分辨率:≤0.08 nm(200Kv),≤0.11nm(80kV); 2. 聚光镜校正加速电压:30kV,80kV,200 kV; 3. 冷场发射电子枪,束流: ≥1nA@0.2 nm,束流漂移:≤1 nm/min;4. 物镜 球差系数:0.5mm,物镜电流稳定度:≤0.2ppm/min;5. 底插式4K x 4K CMOS相机; 6. STEM系统包含HAADF, DF,ABF, BF等功能;7.具备差分相位衬度(SAAF或DPC)成像探头及其配套的数据采集和数据分析软件;8.双能谱,硅漂移无窗型探测器,固体角 ≥ 0.7 srad;分辨率优于138eV@MnKα.
HRTEM, HRSTEM, EELS, HAADF, SAED, iDPC等
无
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